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AP54RHC505ELT-R

Name: Apogee Semiconductor AP54RHC505ELT-R
Brand: Apogee Semiconductor
SKU: 444-AP54RHC505ELT-R
Price: 91.41 EUR
Availability: InStock

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N° Mouser :

444-AP54RHC505ELT-R

N° de fab. :

AP54RHC505ELT-R

Fab. :

Apogee Semiconductor

Description :

Translation - Niveaux de tension LEO 5-Ch Level Translators w/Bus Hold E-Grade SnPb TSSOP14 Tape and Reel

Fiche technique:

AP54RHC505ELT-R Fiche technique (PDF)

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Prix (EUR)

Qté.	Prix unitaire	Ext. Prix
	91,41 €	91,41 €
	76,43 €	764,30 €
	72,69 €	1 817,25 €
	68,59 €	6 859,00 €
Bobine complète(s) (commandez en multiples de 250)
	66,62 €	16 655,00 €
5 000	Devis

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Attribut de produit	Valeur d'attribut	Sélectionner l'attribut
Fabricant:	Apogee Semiconductor
Catégorie du produit:	Translation - Niveaux de tension
RoHS:
REACH - SVHC:
Type:	Level Translator
Type de logique:	CMOS
Package/Boîte:	TSSOP-14
Tension d’alimentation - Max.:	5.5 V
Tension d’alimentation - Min.:	1.65 V
Série:	AP54RHC505
Délai de propagation:	25 ns
Température de fonctionnement min.:	- 55 C
Température de fonctionnement max.:	+ 125 C
Style de montage:	SMD/SMT
Conditionnement:	Reel
Conditionnement:	Cut Tape
Marque:	Apogee Semiconductor
Pays d’assemblage:	Not Available
Pays de diffusion:	Not Available
Pays d'origine:	US
Famille logique:	AP54RHC
Nombre de canaux:	5 Channel
Courant d'alimentation de fonctionnement:	100 mA
Type de produit:	Translation - Voltage Levels
Nombre de pièces de l'usine:	250
Sous-catégorie:	Logic ICs
Nom commercial:	RelBridge
Poids de l''unité:	47 mg

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Fiche technique

AP54RHC505ELT-R Fiche technique (PDF)

PCN

Test/Quality Data

TARIC:: 8542399000
USHTS:: 8542390090
ECCN:: EAR99

AP54RHC505 Rad-Hard 5-Ch Translators w/Bus Hold

Apogee Semiconductor AP54RHC505 Rad-Hard 5-Channel Level Translators with 3-state outputs and bus-keepers are designed for space, medical imaging, and other applications requiring radiation tolerance. The radiation-hardened by design AP54RHC505 level translators are fabricated in a 180nm CMOS process. These translators deliver high resiliency to single-event effects (SEE) and to a total ionizing dose (TID) up to 30krad (Si).